單片機(jī)解密,芯片解密是否存在風(fēng)險(xiǎn)?

發(fā)表時(shí)間：2020-12-22 09:27:55 人氣：2651

這個(gè)是我們和客戶都非常關(guān)心的問(wèn)題，我們都希望快速的一次性解密成功，但是由于解密不是個(gè)非常簡(jiǎn)單的勞工，遇到的各種不可預(yù)見(jiàn)的問(wèn)題很多，即使是同樣的芯片，使用設(shè)計(jì)者采用的不同加密手段，需要解密的手段也需要不同。我們下面結(jié)合我們解密的經(jīng)驗(yàn)，詳細(xì)談?wù)勥@些可能。單片機(jī)解密存在失敗的概率，從我們解密的經(jīng)驗(yàn)來(lái)看，按概率來(lái)講，大概存在1％單片機(jī)解密的失敗概率，存在0.3％的損壞母片的概率。所以我們不保證100％解密成功，也不保證100％不破壞母片，請(qǐng)客戶慎重考慮這種風(fēng)險(xiǎn)。但是我們對(duì)解密失敗的原因進(jìn)行了認(rèn)真總結(jié)(下面寫了一些，有些涉及核心技術(shù)的我們沒(méi)有列出），并盡量采用了降低這種概率的一系列辦法，目前失敗的概率愈來(lái)愈低，并且我們承諾失敗不收客戶任何費(fèi)用。下面分析解密失敗的原因和損壞母片的可能性問(wèn)題。


單片機(jī)解密失敗的原因：  


1.decap存在失敗的可能(這種占解密失敗原因的絕大部分）：  


A.過(guò)腐蝕，PAD腐蝕壞，外部不能讀出程序  


B.芯片流片工藝不好，DECAP的時(shí)候容易腐蝕PASSVAtiON表層(鈍化層），使管芯實(shí)效，外部無(wú)法讀出程序  


C.開(kāi)蓋的時(shí)候把PIN腳氧化（酸弄到管腳上了）  


D.無(wú)意中弄斷AL線  


E.單片機(jī)機(jī)使用特殊封裝材料，無(wú)法和酸反應(yīng)  


F.管芯特殊封裝，不在芯片正中位置，極容易開(kāi)壞  


G:芯片封裝的時(shí)候有雜質(zhì)，無(wú)法進(jìn)行化學(xué)反應(yīng)。  



2.FIB存在失敗的可能：  


A:芯片流片工藝小，位子沒(méi)有找正確  


B:FIB連線過(guò)長(zhǎng)，離子注入失效  


C:離子注入強(qiáng)度沒(méi)有控制好  


D:FIB設(shè)備存在問(wèn)題（目前上海FIB設(shè)備基本是臺(tái)灣或美國(guó)淘汰的，設(shè)備存在問(wèn)題的概率還經(jīng)常出現(xiàn)，但知道有問(wèn)題還好，怕就怕做的過(guò)程中突然出現(xiàn)問(wèn)題，當(dāng)然這個(gè)概率極其的低）


3.其他單片機(jī)解密失敗原因：


目前加密的最新技術(shù)不斷出現(xiàn)（我么已經(jīng)遇到過(guò)一片ATMEGA48的最近加密方式，你用編程器一讀母片，母片程序就會(huì)改變！另外 2007.6.12遇到過(guò)一款TINY13V的單片機(jī)，程序可以解密出，但是就是不能用）、編程器軟件缺陷、芯片燒斷過(guò)多管腳，并且燒斷保護(hù)電路、低級(jí)的誤操作都可能使解密失?。荒壳皢纹瑱C(jī)的程序存儲(chǔ)是靠?jī)?nèi)部電子作為介質(zhì)來(lái)存儲(chǔ)的，當(dāng)芯片使用周期比較長(zhǎng)或受到外部強(qiáng)磁場(chǎng)等環(huán)境的影響，失敗的概率更高；另外帶時(shí)序功能GAL解密，帶有猜測(cè)性質(zhì)，也存在失敗的概率；如果采用純軟件的方式破解，和母片的編程軟件、生產(chǎn)日期和編程方式甚至編程語(yǔ)言等有很大關(guān)系，也存在失敗的概率。


上面的原因可能就造成單片機(jī)解密的失敗。對(duì)于單片機(jī)解密是否損壞母片？單片機(jī)解密解密存在損壞母片的概率，大概有0.3％的概率，所以也請(qǐng)客戶考慮這種風(fēng)險(xiǎn)。我們目前單片機(jī)解密有兩種做法，一種是軟件的方法（要借助類似編程器的自制設(shè)備），這種方法一般不破壞母片（解密后芯片處于不加密狀態(tài)），但也存在誤操作的可能（比如誤擦除等），這種概率更低大概只有0.02％（我們目前只出現(xiàn)過(guò)一次，新手操作）;還有一種是硬件為主，輔助軟件，這種方法需要?jiǎng)冮_(kāi)母片（開(kāi)蓋或叫開(kāi)封，decapsulation），然后做電路修改(通常稱 FIB：focused ion beam)，這種破壞芯片外形結(jié)構(gòu)和芯片管芯線路(影響加密功能)，但不改變芯片本身功能，但在DECAP和FIB過(guò)程也存在破壞芯片的可能（具體見(jiàn)上面分析）。


上一篇：芯片解密過(guò)程中如何利用芯片漏洞？ 下一篇：常見(jiàn)的IC芯片解密所具備的條件解析
此文關(guān)鍵字： 芯片解密

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